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超声波入射声压为PO,圆平面小缺陷的反射角声压PF与缺陷面积S成正比,与缺陷距离a( )。

超声波入射声压为P0,大平面产生的反射波声压PF与芯片面积AS成正比，与距离( )。

超声波探伤发现缺陷反射声压的大小取决于缺陷的大小。

缺陷反射声压的大小取决于: ( )

在垂直线性良好的仪器上，回波高度与声压成正比。因此缺陷大小可用（）来表示。