单选题
电子元器件的寿命试验属于（ ）。
A全数检验
B破坏性试验
C最终检验
D流动检验
正确答案
答案解析
破坏性检验是指将被检样品破坏（如在样品本体上取样）后才能进行检验；或者在检验过程中，被检样品必然会损坏和消耗。破坏性检验包括：①零件的强度试验； ②电子元器件的券命试验；③电器产品的周期湿热试验；④纺织品或材料的强度试验等等。
A全数检验
B破坏性试验
C最终检验
D流动检验
破坏性检验是指将被检样品破坏（如在样品本体上取样）后才能进行检验；或者在检验过程中，被检样品必然会损坏和消耗。破坏性检验包括：①零件的强度试验； ②电子元器件的券命试验；③电器产品的周期湿热试验；④纺织品或材料的强度试验等等。