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下述（）缺陷可用磁粉检测法检出。

射线检测对对接焊缝（ ）缺陷检出率高。

根据射线检测的特点，射线检测对（）缺陷检出率高。

射线检测对于工件内部的体积型缺陷具有较高的检出率。

单晶直探头接触法检测中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（ ）。