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tanδ测试时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线,则试品属于()。

tanδ测试时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈闭合的环状曲线,则试品属于()。

当试品绝缘受潮时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线。

当试品绝缘中存在气隙时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈闭合的环状曲线。

对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而降低。