A 整体受潮
B 整体劣化
C 小体积试品的局部缺陷
D 大体积试品的局部缺陷 答案:D
测量介质损耗因数,通常不能发现的设备绝缘缺陷是( )。
1.288. 第288题测量介质损耗因数时,( )缺陷通常不能被发现。
测量介质损耗因数,对发现以下哪些缺陷较为有效()。
介质损耗因数tgδ试验,可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及大体积设备绝缘的某些局部缺陷。( )
测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常不能发现的设备绝缘缺陷是( )。
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