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被检工件晶粒粗大，通常会引起（）。

金属零件中的粗大晶粒通常会引起()

铸件探伤中,如果材料的晶粒粗大,通常会引起（）。

由材料晶粒粗大而引起的衰减属于（ ）。

所谓“幻影回波”，是由于探伤频率过高或材料晶粒粗大引起的。