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双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。

双晶探头主要应用于近表面缺陷的探测。

收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。

双晶直探头由于延迟块的存在，避免了始脉冲引起的盲区问题，可以检测近表面缺陷和进行薄板检测。

双晶探头用于探测工件（ ）缺陷。