A双晶片垂直法探伤
B斜射法探伤
C纵波垂直法探伤
D反射法探伤
带有斜楔的探头可用于( )。
双晶探头用于探测工件( )缺陷。
聚焦探头一般用于( )探测管材和板材。
LCDM采用液晶显示屏,带有8个功能键,用于( )选择。
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