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根据套管介质损耗角正切值tanδ 和电容量的变化可以较灵敏地反映出( )和其他局部缺陷。

介质损耗角正切值tanδ对局部集中缺陷不太灵敏时,一般将设备进行分解试验。

当绝缘内的缺陷不是整体分布性的,而是集中在某一小点,介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应不够灵敏。

当绝缘内的缺陷不是整体分布性的,而是集中在某一小点,介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应()。

当绝缘内的缺陷不是整体分布性的,而是集中在某一小点,介质损耗正切值tan6对这类局部缺陷的反应不够灵敏。