A串列式探伤
B斜探头探伤
C双晶片直射法
D单探头直射法
E以上都是
能有效发现试件内部光滑片状且与探测面垂直缺陷的有效方法是( )。
与探测面垂直的内部平滑缺陷,最有效的探测方法是:()
为有效的发现工件内部的片状缺陷,应选用( )方法最合适。
厚钢板内部与探测面呈45°倾斜的平滑片状缺陷,最有效的探伤方法是()。
与探测面垂直的内部平滑缺陷,什么方法不采用:()
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