A探头形式
B发射功率
C晶片尺寸
D扩散角
EK值
缺陷定量时探头的( )会影响缺陷的回波幅度。
缺陷定量时缺陷自身的( )会影响缺陷的回波幅度。
缺陷定量时仪器的( )会影响缺陷的回波幅度。
影响缺陷回波高度的因素有 ( )。
纵波探头非缺陷回波的有( )。
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