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被试设备周围不同相位（如A、B、C三相）的带电体与被试设备不同部位间存在电容耦合，这些不同部位的耦合电容电流(干扰电流）沿被试品和电桥测量电路(正、反、侧接线）流过，形成电场干扰，对现场tanδ的测量造成误差