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单探头法探测与波束轴线（）缺陷最易发。

直探头只能发射和接收纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于发现与探测面（ ）的缺陷。

当缺陷取向与探头波束轴线（）时最不容易发现。

尺寸和深度都相同的缺陷，在相同探伤灵敏度下探测，回波最高的是 最大表面与波束轴线（）。

双晶探头用于探测工件（ ）缺陷。