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垂直线性良好的仪器在探测平底孔时，孔面积每增加一倍，回波高度增加（ ）

垂直线性良好的探伤仪在探测平底孔时，孔径每增加一倍，回波高度应增加一倍。

垂直线性良好的探伤仪在探测平底孔时，孔径每增加1倍，回波高度应增加1倍。

在垂直线性良好的仪器上，回波高度与声压成正比。因此缺陷大小可用（）来表示。

某一垂直线性良好的通用探伤仪，荧光屏回波高度80%，衰减6dB后回波高度为（ ）。