A罐体上的尖端放电
B;
C导体上的尖端放电
D;
E尖端放电缺陷,但无法判断出位于罐体还是导体上
F;
现场采用仪器内部电源自同步的便携式仪器进行特高频局部放电检测时,排除外部干扰,脉冲信号集中在正半波峰值处,则可以肯定的是缺陷为 (____)。
现场采用仪器内部电源自同步的便携式仪器进行特高频局部放电检测时,排除外部干扰,脉冲信号集中在正半波峰值处,则可以肯定的是缺陷为( )。
现场采用仪器内部电源自同步的便携式仪器进行特高频局部放电检测时,排除外部干扰,脉冲信号集中在正半波峰值处,则可以肯定的是缺陷为尖端放电缺陷,但无法判断出位于罐体还是导体上。
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