试题详情

对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而基本不变。

对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而降低。

tanδ测试时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈闭合的环状曲线,则试品属于()。

对于良好的绝缘试品，电压升高时（）。

对于额定电压为35kV及以上的设备,测试tanδ时一般升压至()。