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(2014年)无损探伤中，仪能检测出各种导体表面和近表面缺陷的方法为()。

无损探伤中，仅能检测出各种导体表面和近表面缺陷的方法为（ ）。

无损检测方法中（ ）可以检测近表面缺陷。

表面无损检测方法有( )。

只能检测表面开口缺陷的探伤方法是（）