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直探头探测厚250mm及500mm的两个饼形锻件，若后者探测面粗糙，与前者耦合差5D B，材质衰减均为0.004DB/mm，前者的底面回波调至示波屏满幅度的80%，则后者的底面回波应为满幅度的()

直探头探测厚250mm及500mm两锻件，后者与前者耦合差4dB，材质衰减均为0.004dB/mm，前者的底面回波调至示波屏满幅度的80％，则后者的底面回波应为满幅度的（ ）。

直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件，若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5D B，两者的材质双声程衰减均为0.004DB/mm，当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时，后者的底面回波

直探头探测厚100mm和400mm的两平底面锻件，若后者探测面粗糙，与前者耦合差为5db，材质衰减均为0.01Db/mm（双程），今将前者底面回波调至满幅(100%)高，则后者的底面回波应是满幅度的

厚度均为400mm，但材质衰减不同的两个锻件，采用各自底面校正400/Φ2灵敏度进行分别探测，现两个锻件中均发现缺陷，且回波高度和缺陷声程均相同，则：（）