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以相同的探伤灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，同处深度200mm的缺陷回波高度也一样，则两者的缺陷（ ）。

149．以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，在相同深度时缺陷的回波高度也一样，则两者的缺陷铸件中的大。（ ）[321010201]

深度相同但表面状态不同的缺陷，在相同探伤灵敏度下，两者的回波高度不同

148．深度相同但表面状态不同的缺陷，在相同探伤灵敏度下，两者的回波高度不同。（ ）[321010201]

用探测面为平面的对比试块中φ2mm平底孔校准的探伤灵敏度，去探测一个探测面为圆柱面的试件，发现一个深度和回波高度均与试块相同的缺陷，则该缺陷的当量（ ）。