Aφ4mm
Bφ2mm
Cφ5mm
Dφ3mm
在检测条件相同的情况下,某一个缺陷的指示埋藏深度及回波高度与对比试块上φ4mm平底孔相同,则该缺陷的大小相当于( )平底孔。
在检测条件相同的情况下,某缺陷指示的埋藏深度及回波高度与对比试块上φ4平底孔相同,则该缺陷的大小相当于( )。
用探测面为平面的对比试块中φ2mm平底孔校准的探伤灵敏度,去探测一个探测面为圆柱面的试件,发现一个深度和回波高度均与试块相同的缺陷,则该缺陷的当量( )。
深度相同但表面状态不同的缺陷,在相同探伤灵敏度下,两者的回波高度不同
当 X ≥ 3 N 时,在检测条件相同的情况下,平底孔直径增加一倍,其回波( )。
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