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13.超声波探伤，检验近表面缺陷，最有效的探头形式应是 探头。

检验近表面缺陷，最有效的探头是（）。

探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤法，称为斜射法。

收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。

超声波薄板探伤时可采用（）探头。