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61．THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统，双侧元件温度接近环温时，可能是探头温控板造成的。（ ）【出自《THDS-A（哈科所）技术手册》】
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129．THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统单侧元件温度接近环温时，可能是 ( ) 造成的。【出自《THDS-A（哈科所）技术手册》】
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0．THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统，元件温度与正常值偏离较大，则用万用表测量探头温控板输出，如果换算出的温度与正常值相差很大，则更换AD采集板。（ ）【出自《THDS-A（哈科所）技术手册》
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128．THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统如果报元件温度故障，可能是( )。【出自《THDS-A（哈科所）技术手册》】
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59．THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统，如果报元件温度故障，可能是热靶故障。（ ）【出自《THDS-A（哈科所）技术手册》】