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LEMP是以路和场两种形式耦合影响设备,屏蔽是减少电磁干扰(场形式)的基本措施,因为利用金属屏蔽体吸收、( )、反射可衰减加在设备上的电磁干扰和过电压能量。
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LEMP
是以
路
和
场两种
形式
耦合
影响
设备
,
屏蔽
是
减少
电磁
干扰
(
场
形式
)
的
基本
措施
,
因为
利用
金属
屏蔽
体
吸收
、(
)
、
反射
可
衰减
加
在
设备
上
的
电磁
干扰
和
过电压
能量
。
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