A晶片的厚度
B晶片材料的声速
C晶片材料的声阻抗
D晶片材料的密度
探头的频率取决于()。
探头的频率取决于( )。
仪器和探头的组合频率取决于仪器的发射电路与探头的组合性能。
探头的工作频率主要取决于晶片的宽度和超声波在晶片材料中的传播速度。
探头中压电晶片的基频取决于 ( )。
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