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与IIW试块相比CSK-1A试块的优点之一是可以测定斜探头分辨力。

CSK-1A试块利用（ ）曲面测定斜探头的分辨力。

CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。

探头处于CSK-1A试块R100探测面时，可以测定斜探头的：（）

与普通探头相比，聚焦探头的分辨力较高。