Aφ35
Bφ45
Cφ44
Dφ50
Eφ55
CSK-1A试块利用( )曲面测定斜探头的分辨力。
测定直探头的分辨力是利用CSK-1A试块( )高度的台阶。
可利用CSK-1A试块R50和R100两个曲面测定斜探头分辨率。
利用CSK-1A试块上∮50mm曲面和∮1。5mm横孔可测定斜探头( )。
与IIW试块相比CSK-1A试块的优点之一是可以测定斜探头分辨力。
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