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用垂直法探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其回将至屏高的50%，前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数时是10dB，后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB,则（ ）。

用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其回波降至屏高的50％，前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB，后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB，则（ ）

72．用垂直法探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其回降至屏高的50%，前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数时是10dB，后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB，则（ ）。[32101

用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其 回波降至屏高的50％，前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB，后一个缺陷回波至 此高度时衰减器读数是40dB则（）。

垂直线性好的A型超声波探伤仪当衰减器读数值增大12 dB时，荧光屏上波幅降至原高度的（ ）。