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用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其回波降至屏高的50％，前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB，后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB，则（ ）

用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其 回波降至屏高的50％，前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB，后一个缺陷回波至 此高度时衰减器读数是40dB则（）。

72．用垂直法探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其回降至屏高的50%，前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数时是10dB，后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB，则（ ）。[32101

用垂直法探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其回将至屏高的50%，前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数时是10dB，后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB,则（ ）。

以相同的探伤灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，同处深度200mm的缺陷回波高度也一样，则两者的缺陷（ ）。