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表面波探头用于探测工件（ ）缺陷。

双晶探头用于探测工件（ ）缺陷。

66.双晶探头用于探测工件（ ）缺陷。[322020101]

聚焦探头主要用于探测什么工件?

斜探头主要用于探测与探测面（）或成一定角度的缺陷。