A(A):近表面
B(B):表面
C(C):内部
D(D):平面形
66.双晶探头用于探测工件( )缺陷。[322020101]
双晶探头用于探测工件( )缺陷。
表面波探头用于探测工件( )缺陷。
双晶探头主要应用于近表面缺陷的探测。
聚焦探头主要用于探测什么工件?
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