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单晶直探头接触法检测中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（ ）。

单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（）。

单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效的检出，这是因为：（）