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单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效的检出，这是因为：（）

单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（）。

单晶直探头接触法检测中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（ ）。

103.接触法超声波探伤，探测距离较大时，为获得较为集中的能量，应选用 直径晶片的探头 。

102.接触法超声波探伤，探测近距离(或小直径)工件时，为获得较大声场范围，可选用 直径 晶片的探头。