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探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法称为（ ）。

探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤法，称为斜射法。

探头晶片与缺陷表面不平行的探伤方法，称为斜射法。（ ）

103.接触法超声波探伤，探测距离较大时，为获得较为集中的能量，应选用 直径晶片的探头 。

晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面进入被探材料的检验方法称为（）。