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探头晶片与缺陷表面不平行的探伤方法，称为斜射法。（ ）

探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤法，称为斜射法。

探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法称为（ ）。

带有斜楔的探头可用于斜射法探伤。

探头晶片尺寸（），进场区长度增加，对近表面探伤不利。