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在一般情况下，介质损耗tgδ试验主要反映设备绝缘的局部缺陷，而对整体缺陷反映不灵敏。( )

介质损耗因数tgδ试验，可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及大体积设备绝缘的某些局部缺陷。( )

介质损失角试验能够反映出绝缘所处的状态，但对整体缺陷反应灵敏，对局部缺陷反应不灵敏

当绝缘内的缺陷不是整体分布性的,而是集中在某一小点,介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应()。

一般来说,被试设备的体积电容愈大,或局部集中缺陷的范围愈小,总体tanδ的数值增加也就愈小,对缺陷的反映愈不灵敏。