试题详情

一般来说,被试设备的体积电容愈大,或局部集中缺陷的范围愈小,总体tanδ的数值增加也就愈小,对缺陷的反映愈不灵敏。

在一般情况下，介质损耗tgδ试验主要反映设备绝缘的局部缺陷，而对整体缺陷反映不灵敏。( )