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检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头。

检验近表面缺陷时，最好果用联合双晶探头。

收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。

双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。

双晶探头主要应用于近表面缺陷的探测。