试题详情

CSK-1A试块的上φ44、φ50台阶孔，是测定(　　)。

CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。

CSK-1A试块的上85和91两个台阶，是测定（）。

CSK-1A试块Ф40、Ф44、Ф50、台阶孔，主要用来测试斜探头的（ ）。

CSK-I试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40，Φ44，Φ50台阶孔，其目的是（ ）。