试题详情

CSK-I试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40,Φ44,Φ50台阶孔,其目的是( )。

A测定斜探头K值

B测定直探头盲区范围

C测定斜探头分辨力

D测定斜探头偏斜角