A测定斜探头K值
B测定直探头盲区范围
C测定斜探头分辨力
D测定斜探头偏斜角
CSK-I试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40,Φ44,Φ50台阶孔,其目的是( )。
CSK- I B 试块将ⅡW 试块的Φ50 孔改为 40,44,50 台阶孔,其 目 的是 ( )。
我国的 CSK-1A 试块是在 IIW 试块的基础上改进后得到的,其 中将直孔φ50 改为阶梯孔 ( )
CSK-1A试块Ф40、Ф44、Ф50、台阶孔,主要用来测试斜探头的( )。
CSK-1A试块的上φ44、φ50台阶孔,是测定( )。
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