试题详情

CSK-I试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40，Φ44，Φ50台阶孔，其目的是（ ）。

CSK-1A试块Ф40、Ф44、Ф50、台阶孔，主要用来测试斜探头的（ ）。

CSK-1A试块的上φ44、φ50台阶孔，是测定(　　)。

CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。

我国的 CSK-1A 试块是在 IIW 试块的基础上改进后得到的,其 中将直孔φ50 改为阶梯孔 ( )