相关试题
-
135．THDS-A（哈科所）探测站热靶镀膜损伤时，影响( ) 。【出自《THDS-A（哈科所）技术手册》】
-
80．THDS-A（哈科所）探测站热靶镀膜损伤时，影响探测精度。（ ）【出自《THDS-A（哈科所）技术手册》】
-
134．THDS-A（哈科所）探测站热靶采用的温传感器的型号是 ( ) 。【出自《THDS-A（哈科所）技术手册》】
-
50．THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统，热靶曲线加热过快，可能会影响THDS-A（哈科所）设备的测温精度。（ ）【出自《THDS-A（哈科所）技术手册》】
-
126．THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元温高低变化不稳定，影响热靶曲线，会造成 ( )测温误差大。【出自《THDS-A（哈科所）技术手册》】