相关试题
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80.THDS-A(哈科所)探测站热靶镀膜损伤时,影响探测精度。( )【出自《THDS-A(哈科所)技术手册》】
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135.THDS-A(哈科所)探测站热靶镀膜损伤时,影响( ) 。【出自《THDS-A(哈科所)技术手册》】
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50.THDS-A(哈科所)红外轴温探测系统,热靶曲线加热过快,可能会影响THDS-A(哈科所)设备的测温精度。( )【出自《THDS-A(哈科所)技术手册》】
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134.THDS-A(哈科所)探测站热靶采用的温传感器的型号是 ( ) 。【出自《THDS-A(哈科所)技术手册》】
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126.THDS-A(哈科所)探测站,红外轴温探测系统元温高低变化不稳定,影响热靶曲线,会造成 ( )测温误差大。【出自《THDS-A(哈科所)技术手册》】