试题详情

在一定探伤灵敏度下，从探测面到最近可探缺陷在被检工件中的深度是（）。

在实际探伤中若以试块上某一深度的人工缺陷反射调整好的灵敏度去探测工件时，必须再加上工件与试块表面耦合损耗dB差就称为（）。

以相同的探伤灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，同处深度200mm的缺陷回波高度也一样，则两者的缺陷（ ）。

灵敏度余量是指超声波探伤系统中，以一定电平表示的标准缺陷探测灵敏度与（）。

探测工件侧壁附近的缺陷时，探伤灵敏度往往会明显偏低，这是因为有侧壁干扰所致.