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锻件探伤时,哪些因素会产生非缺陷回波 ( )

锻件探伤时，哪些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波（）

锻件探伤时，那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波？()

以相同的探伤灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，同处深度200mm的缺陷回波高度也一样，则两者的缺陷（ ）。

方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷的取向可能是（ ）。