55．用探测面为平面的对比试块中Φ2mm平底孔校准的探伤灵敏度，去探测一个探测面为圆柱面的试件，发现一个深度和回波高度均与试块相同的缺陷，则该缺陷的当量。（ ）[321010201]
A(A):等于Φ2mm平底孔
B(B):比Φ2mm平底孔大
C(C):比Φ2mm平底孔小
D(D):不小于Φ2mm平底孔
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55．用探测面为平面的对比试块中Φ2mm平底孔校准的探伤灵敏度，去探测一个探测面为圆柱面的试件，发现一个深度和回波高度均与试块相同的缺陷，则该缺陷的当量。（ ）[321010201]
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用探测面为平面的对比试块中φ2mm平底孔校准的探伤灵敏度，去探测一个探测面为圆柱面的试件，发现一个深度和回波高度均与试块相同的缺陷，则该缺陷的当量（ ）。
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以相同的探伤灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，同处深度200mm的缺陷回波高度也一样，则两者的缺陷（ ）。
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用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其 回波降至屏高的50％，前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB，后一个缺陷回波至 此高度时衰减器读数是40dB则（）。
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74．尺寸和深度都相同的缺陷，在相同探伤灵敏度下探测，回波最高的是（ ）。[321010201]